檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "電子工程系".cdept (精準) and ckeyword.raw="耦合電容(coupling capacitance)"
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隨著製程技術進入到VDSM (very deep sub-micro),匯流排上的導線間距也隨之縮小,造成匯流排的耦合電容快速增長,所以對晶片上訊號傳送的可靠度與功率的消耗都有明顯的影響,因此設計出…